俄歇电子能谱分析（AES）
X射线分析 (X-ray)
金相切片分析 (Metallographic)
SEM和EDS分析 (SEM&EDS)
激光共聚焦显微拉曼光谱分析 (Micro Raman spectroscopy)
X射线衍射分析（XRD）
显微傅里叶红外光谱分析 (FTIR)
声学扫描分析（C-SAM）
透视电子显微镜（TEM）
X射线荧光光谱分析（XRF）
染色分析 (Staining)
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| 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES) | X-RAY透视显微镜 | 气相色谱-质谱联用仪GC-MS |
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| 扫描电子显微镜与能谱仪SEM/EDS | 声学扫描显微镜SAM | 透射电子显微镜TEM |
