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HAST测试
集成电路芯片、分立器件、晶体管等元器件的耐湿性测试

HAST一般称为高加速温湿度应力试验或是高加速应力试验。华碧实验室HAST测试实验室通过施加严酷的温度、湿度并提高水汽压力,水汽通过封装材料或管脚渗透,用来评价元器件在潮湿环境中的可靠性,华碧实验室拥有专业资质、经验丰富的技术专家团队,同时可根据客户的技术需求,定制推荐合理的测试方案。

服务背景
电子设备主要是由电子元器件组成的,因此电子元器件的可靠性直接影响电子设备可靠性。电子元器件也是属于比较“脆弱”的一种产品,温度、湿度、振动、盐雾等各种环境应力都可能会损伤电子元器件,造成电子设备的故障失效。根据大量失效数据分析,湿气引起电子元器件的失效比例占20%左右。
HAST( Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test): 一般称为高加速温湿度应力试验或是高加速应力试验。HAST测试通过施加严酷的温度、湿度并提高水汽压力,水汽通过封装材料或管脚渗透,用来评价元器件在潮湿环境中的可靠性。
服务内容
一、适用测试标准
GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列电工电子产品环境试验 试验C:未饱和高压蒸汽恒定湿热
JESD22-A110高加速温湿度应力试验
JESD22-A118加速防潮-无偏置高加速温湿度应力试验
AEC-Q汽车零部件车规级标准
二、适用产品范围
集成电路IC、晶体管、MOS管、电阻、电容、电感、LED、光伏元件、机电元件、传感器等。
三、常规样品要求
请联系我们的业务或客服,以具体标准为准。
四、测试方法
U-HAST:无偏压高加速温湿度应力试验,是测试电镀和直接化学腐蚀的优选方法.
B-HAST:偏压高加速温湿度应力试验,与温湿度偏压试验(THB)对产品的破坏机理一致,是THB的加速测试,测试时器件必须以*小的功耗运行。
常规测试条件

常规测试条件

温度(℃)

湿度(%RH)

110

85

120*

85

130

85

*注:120℃/85%RH条件仅标准GB/T 2423.40/IEC 60068-66适用

华碧实验室解决方案
华碧实验室提供全面的可靠性测试一站式解决方案,包括。
● 环境测试
● 可靠性测试
● 可靠性设计
● 可靠性测分析
● 产品评估
● 可靠性培训及咨询
常见问题
Q1:测试周期需要多久?
正常周期为5-7个工作日(样品在试验箱或试验台内时间除外)。如需加急,请联系我们的业务或者客服。
Q2:AEC-Q认证标准中的HAST测试,一般建议的测试条件是什么?
AEC-Q认证标准中,一般建议130℃/85%RH,96h或110℃/85%RH,264h。根据样品的材质情况也可以进行85℃/85%RH的THB测试。

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